【放射率测试仪 半球发射率测量仪产品概述】

本发射率测量仪是用于测量发射率的设备。主要特点为：

1.重复性：±0.01 辐射单元

2.操作简单：该设备的探测器部分可以电加热，所以样品无需加热。无需进行温度测量。

3.快速测量：设备本身预热时间为30 分钟，之后每1.5 分钟可以进行一次辐射测量。

在150F（65℃）时，发射率测量仪的发射率测量值接近全半球发射率。探测器只对辐射热转移有反应，该设计满足电压随发射率成线性输出。数字电压表是发射率测量仪的读出设备，右下角处设有一个调节钮，通过调节该钮，可以使读出的电压数与校准标样的发射率保持*。之后，当发射率测量仪的探测器被放置在待测材料表面上时，数字式电压表便会直接显示发射率数值。

发射率测量仪可以对横截面直径5.7 厘米的平面材料进行测量。其适配器1 和适配器3 可以实现对横截面直径为2.54 厘米的平面材料进行测量。我们也可以根据用户的需求定制用于圆柱形表面及其他表面测试的适配器。测量发射率需要两个步骤：

1.将发射率探测器置于高发射率标样之上，调节数字电压表的读数，以显示其发射率；

2.将发射率探测器置于被测样品之上，从数字电压表直接读出其发射率。

【半球发射率测量仪技术规范】

1.读数：通过数字电压表读出数据

2.输出：2.4 毫伏额定电压，样品发射率0.9，样品温度78F（25℃）。额定输出电阻150欧。

3.线性：探测器线性输出，发射率在+/-0.01 单位以内。

4.时间常数：额定10 秒（时间达到zui终值的63%）

5.热槽：用于保持校准标样和待测材料处于同一温度下

6.样品温度：zui高130F。样品和校准标样必须处于同一温度下。

4.偏差：由于室温的变化，输出将随时间变化。该偏差可忽略。

5.标准样品：随发射率测量仪将交付4 个校准标样，两个高发射率校准标样和两个低发射率校准标样。一套高低发射率校准标样将在工作中使用，另一套将作为参照物被存储。工作标样将定期根据存储标样进行降解测试。

9.直流功率适配器：通用直流适配器，100-240V，50-60Hz，直流12W。使用美标电源线。

发射率测量仪系统包括发射率探测器、用于直接读取发射率的数字式电压表、功率/输出线缆、热槽、两个高发射率校准标样、两个低发射率校准标样、技术注解和操作手册。

【选项】

1.适配器1：发射率适配器，用于测量平面材料，zui小直径可达1.5 英寸（3.8cm）。

2.适配器3：发射率适配器，用于测量平面材料，zui小直径可达1.0 英寸（2.54cm）。

3.定制适配器：可以根据需要，定制用于圆柱形表面或其他任何几何形状的适配器。

4.便携箱：箱内有适合测试系统放置的槽。箱外尺寸13×16×7 英寸（33×40×18cm）

5.电池组：用于便携操作，一组锂离子电池可以提供12小时的连续工作电源、低电量指示和用于充电的通用适配器。

【发射率测量适配器】

目前，我们已经可以使用发射率测量仪适配器1 对zui小直径为1.5 英寸（3.8cm）的平面材料进行发射率测量。典型应用包括，对太阳吸收板上的管子进行测量，或对直径小于2.25 英寸（5.7cm）的样品进行测量。适配器可以跳过被测区域周围高达0.375 英寸（0.95cm）的垂直的障碍物。

适配器由两个尼龙螺丝钉固定。适配器与发射率探测器顶端相匹配，下部是一个直径为1.5英寸的圆形管，管的顶端便是探测器的测量端口。圆形管的内表面覆盖了一层高反射率的镜面材料。该反射材料将探测器与被测样品发出的热辐射集中，因此，即使被测样品与探测器间有较大距离，发射率测量仪的输出值仍然很高。适配器的测量端口处被一层聚四氟乙烯密封垫包裹，由此保护被测物体的表面。

适配器3 的用法与适配器1 基本相同，但存在以下区别：

适配器3 的测量孔径的内直径是0.75 英寸，外直径是1.0 英寸。因此，适配器3 可以测量的zui小样品直径为1.0 英寸。该适配器的锥形部位与与其圆柱形部分紧密结合，便于使用反射膜。

当反射膜需要被替换时，应将适配器送回我公司。由于替换适配器锥形部位的薄膜需要极精密的技术，因此产品交付时不含备用反射膜。

适配器配有一个铝制砝码。当使用适配器时，它将被安装在发射率探测器上，以实现操作的稳定性。探测器必须平稳的置于被测表面之上。砝码可以调节至一端，以避开发射率探测器顶部的螺丝钉。如果砝码的重量对于待测样品而言重量过重，用户可以将其调至较轻的重量。

【发射率测量仪系统配置】

1.发射率测量仪；

2.两个高发射率校准标样；两个低发射率校准标样；

3.热槽；

4.配备100/240V 50-60Hz 通用电源的输出线缆；

5.标准电源线；

6.数字电压表；

7.便携箱；